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齿顿尝惭231菲希尔齿射线测厚仪信息

  • 发布日期:2024-11-15      浏览次数:222
    •   FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的最合适的测量仪器。

        FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途,有不同的版本。 XDLM 231 型的工作台为固定式工作台,马达驱动的 Z 轴升降系统。

        XDLM 232 型配有可手动操控的 X/Y 工作台,马达驱动的 Z 轴升降系统。

        XDLM 237 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台,当保护门开启时,工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。


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